探究多丝正比计数器工作气体压强变化对α、β表面粒子发射率测量的影响

• 作者: 王鹏
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 正比计数器 工作气压改变 表面发射率 影响分析
• 年，卷（期）: 2022,（3）
• 所属期刊栏目: 理论与算法|The theory and algorithm
• 页码范围: 78-80
• 页数: 3页
• 分类号: TM930
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2022.03.022

摘要

讨论工作气压改变对α、β表面粒子发射率测量情况形成的影响,具体操作是在发射率装置上调整多丝正比计数器工作气压,测量α、β这两类粒子的实际发射率,基于阈值外推修正漏计数率.统计发现,工作气压50～180kP范围变动时,即便是在实验不确定度范畴中,差异化气压条件下α、β表面粒子的发射率测量值维持一致,建模的仿真模拟结果和试验最后所得结果相吻合.