基于EFA-GA-XGBoost组合预测模型的绝缘子表面污秽程度预测方法

• 作者: 赵昕迪
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: EFA-GA-XGBoost 预测模型
• 年，卷（期）: 2022,（5）
• 所属期刊栏目: 理论与算法
• 页码范围: 68-70
• 页数: 3页
• 分类号: TM615
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2022.05.018

摘要

文章提出了基于探索性因子分析的GA-XGBoost组合预测模型评估绝缘子表面污秽状态,,以个因子变量及其得分作为输入,绝缘子上下表面的ESDD和NSDD作为输出建立基于XGBoost的污秽预测,所提模型具有更短的预测时间、更高的预测精度和更强的泛化能力.