SF6放电的发射光谱特性分析与放电识别

• 作者: 李彦飞 汤贝贝 韩冬 邱宗甲 张国强
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 六氟化硫(SF6) 发射光谱 特征光谱 局部放电 放电识别
• 年，卷（期）: 2022,（7）
• 所属期刊栏目: 高电压与放电
• 页码范围: 1866-1874
• 页数: 9页
• 分类号: TM855
• 语种: 中文
• DOI: 10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.210307

摘要

该文通过实验模拟六氟化硫(SF6)气体绝缘电气设备的三种常见放电缺陷(电晕放电、火花放电以及沿面放电),并采用光谱仪检测上述放电缺陷下的200～1037nm波段范围内的发射光谱.结果表明,电晕放电的发射光谱主要由带状光谱(OH自由基谱带,SF6和SFx分子谱带)和微弱的F原子线状谱组成;火花放电的发射光谱在电晕放电的基础上新增了硫原子、硫离子和氟离子的线状光谱;沿面放电的发射光谱与火花放电的轮廓相似,但由于沿面故障模拟模型中引入了铜元素,因此发射光谱中出现了铜原子和铜离子的线状谱.最后,根据电晕放电、火花放电和沿面放电的光谱特性差异,定义了两个特征物理量:Iratio和|I′nor(323.371nm)|,设计相应的放电识别算法.该算法的正确率为94.33％,可有效地识别实验中的SF6放电缺陷.