载波泄漏的分析与检测

• 作者: 张瑞江 刘振
• 来源期刊: 数字通信世界
• 学科: 工学
• 关键词: 载波泄漏 I/Q偏移 OFDM
• 年，卷（期）: 2023,（11）
• 所属期刊栏目: 技术分析
• 页码范围: 52-55
• 页数: 3页
• 分类号: TN 06,TN 929.52
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/J.ISSN.1672-7274.2022.11.018

摘要

文章从载波泄漏的原理出发，详细分析了其产生的原因以及在基站和终端设备中的影响，并给出了4G、5G标准中、终端载波泄漏的测试规定以及测试方法，最后总结了减小载波泄漏的方法。