快速暂态过电压老化对环氧树脂电气强度的影响

• 作者: 潘绍明 张磊 赵坚 苏毅 饶夏锦 陈梁远 黎大健
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: VFTO 环氧树脂 电气强度 电老化
• 年，卷（期）: 2024,（1）
• 页码范围: 46-50
• 页数: 5页
• 语种: 中文
• DOI: 10.16790/j.cnki.1009-9239.im.2024.01.007

摘要

为了探究快速暂态过电压（VFTO）对环氧树脂击穿性能的影响，本文制得环氧树脂试样，并在20 kV与40 kV下对试样进行1 000次VFTO老化试验，通过红外光谱、扫描电子显微镜、介电谱及击穿试验，研究了VFTO老化对环氧树脂化学结构、微观形貌、介电参数与击穿性能的影响。结果表明：经VFTO老化后，环氧树脂表面C-O-C键和C=O含量减少，试样内部缺陷增多，松弛极化行为增强，电气强度下降。在20 kV和40 kV VFTO老化作用后，环氧树脂的电气强度分别降低了14.89%和25.67%。通过分析发现，VFTO老化作用后，环氧树脂内部大分子链断裂导致缺陷增多，这是其电气强度下降的主要原因。