短路电流对二次设备电磁干扰分析及抗干扰措施

• 作者: 张赢 袁晓东 曹春诚 程显 朱剑鹏
• 来源期刊: 高压电器
• 关键词: 一二次融合 电磁干扰 合成试验回路 暂态恢复电压 ATP-EMTP 二次设备
• 年，卷（期）: 2024,（1）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 182-189
• 页数: 8页
• 语种: 中文
• DOI: 10.13296/j.1001-1609.hva.2024.01.021

摘要

目前智能配电网的建设不断推进，加快了配电开关一二次设备相关技术的发展，也对长期处于复杂电磁环境下的二次设备提出了更高的要求。文中基于合成试验回路搭建了短路电流对配电开关二次设备电磁干扰试验平台，开展开断故障电流对相关干扰对成套设备的影响研究，分析干扰信号产生原因、频谱特性。针对干扰的特性设计一套抗干扰测量系统，利用ATP-EMTP模拟合成回路进行仿真分析并进行实际测试验证。结果表明：成套设备进行开断试验时，二次设备端口会受到较大的干扰。电流波形也会发生畸变，干扰电流的最高可到26 A，且干扰电流受电流互感器磁饱和和退饱和的影响，通过增加抗干扰措施，二次设备输出准确度与之相比提升约40%。本次的试验结果可为一二次融合成套设备中二次设备电磁兼容研究提供相关依据。