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频域反射法;缺陷识别;长度类型;信号衰减强度评估
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
绝缘材料
主办单位：
桂林电器科学研究院有限公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1009-9239
CN：
45-1287/TM
开本：
大16开
出版地：
邮发代号：
创刊时间：
1966-01-01
语种：
chi
出版文献量（篇）
2892
总下载数（次）
0
总被引数（次）
19598
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