光亮强度对三维表面缺陷测量工艺稳定性影响的研究

• 作者: 吴红 邹昱临 苏大帅 中国商飞上海飞机制造有限公司
• 来源期刊: 科技与创新
• 关键词: 三维表面缺陷测量 光亮强度 工艺稳定性 条纹投影
• 年，卷（期）: 2024,（23）
• 所属期刊栏目: 工程技术
• 页码范围: 86-89
• 页数: 4页
• 语种: 中文
• DOI: 10.15913/j.cnki.kjycx.2023.23.024

摘要

基于条纹投影技术的三维表面缺陷测量工艺，因具有非接触、精度高、速度快、便捷性强等特点而成为飞机表面质量评价的重要手段。针对钢材质的试验件开展了光亮强度对基于条纹投影法的三维表面缺陷测量工艺稳定性研究，首先对光学条纹投射器设置8个亮度值，并分别进行图像采集、数据记录与分析处理。经研究发现，图像采集时应选择合适的亮度，即光学条纹投射器投影后表面无严重的反光现象，且光亮强度波谱图最佳“正态分布”，此时工艺稳定性最佳。