便携式计算机热插拔引起的低压浪涌试验要求

• 作者: 王壮 董智芝 阮武 于龙 .联想(北京)有限公司 .合肥联宝信息技术有限公司
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 热插拔;输入/输出端口;低压浪涌试验
• 年，卷（期）: 2025,（11）
• 页码范围: 99-103
• 页数: 5页
• 语种: 中文

摘要

热插拔技术为用户带来了显著的便捷性，简化了操作流程。然而，热插拔过程中产生的充电端口低压浪涌现象可能构成重大隐患，有可能导致设备损坏，进而给用户带来财产损失。为了评估此类风险并减少由热插拔引发的低压浪涌所带来的潜在危害，提出了一套针对便携式计算机输入/输出端口在热插拔条件下低压浪涌抗扰度的测试要求及分级标准。同时，详细阐述了相应的测试方法、测试流程及测试结果的评价体系，旨在为同类测试提供参考。