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分析测试仪器通讯1995年第3期出版文献
出版文献量(篇)
267
总下载数(次)
2
分析测试仪器通讯
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投稿
主办单位:
中国分析测试协会
ISSN:
1006-2750
CN:
出版周期:
季刊
邮编:
100037
地址:
北京阜外百万庄路26号
出版文献量(篇)
267
总下载数(次)
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1.
广角测角仪“ULTIMA^+”系统
作者:
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
125-128
摘要:
为了进行陶瓷材料、金属、矿物、半导体、纤维、化学产品、聚合物等的研究和分析,安装广角测角仪的粉末X射线衍射仪已在许多工业和研究领域广泛使用。在某些领域中,对于低角度2θ扫描区域可给出良好峰分...
2.
全反射X射线荧光光谱仪的研制
作者:
张天佑 朱永奉 李国会 樊守忠
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
129-132
摘要:
文章报道了由地矿部物化探研究所和成都地矿所联合研制的全反射X射线荧光(TRXRF)分析装置。介绍了全反射原理及装置的结构特点。该样机与常规的X射线光谱仪相比,对12种元素的检出限降低了2-3...
3.
测定表面张力装置的改进
作者:
李学刚 王以和
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
133-136
摘要:
介绍了滴体积法表面张力测量装置的发展。经作者改进后的测量装置十分简便,可能随意控制液滴的下落速度,测量精度达0.1mN/m,消除了人为误差,数据重视性好。
4.
气动雾化器毛细管的防堵塞装置
作者:
庞海岩 曾隆强
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
137-139
摘要:
研制了用于防止电感耦合等离子体原子发射光谱仪气动雾化器毛细管堵塞的进样装置。该装置由一根底端封闭的,侧壁开有一定数量微孔的薄壁塑料毛细管,套接于ICP-AES气功雾化器输样毛细管的末端构成。...
5.
感耦等离子体原子发射光谱法测定高纯铅中杂质元素的干扰研究
作者:
张淑珍 王春梅
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
140-142
摘要:
文章介绍了用ICP-AES法测定高纯铅中杂质元素时,Pb对分析元素的干扰情况。Pb对Ge、Mo、P、As、Fe、Bi、Mn有背景影响,对Sb产生谱线干扰。10mg/ml的Pb分别产生相当于0...
6.
顶空气相色谱法测定庆大霉素中残留甲醇
作者:
关紫峰 蔡云萍
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
143-145
摘要:
采用顶空气相色谱法,以GDX-101为固定相,选择70℃温度下恒温15min的气液平衡条件,正丙醇为内标物,测定了庆大霉素中甲醇残留量。标准加入法回收率试验的平均回收率为94.9%,对同一试...
7.
红外光谱微量试样的简便制样方法
作者:
冯金城 霍建中
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
146-148
摘要:
介绍了红外光谱测定中微量样品提取液的制样方法并对比了制样效果,该方法简单、快速且可靠。
8.
原子发射光谱仪
作者:
辛仁轩
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
149-167
摘要:
文章讲述了原子发射光谱仪器的基本特征,分析性能及其发展,主要内容包括:激发光源,进样系统,分光系统,检测系统及原子发射光谱仪。
9.
XASM—800型多功能表面分析系统的改进与修复
作者:
万德锐 左长明 赵纯培 陈红
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
168-170
摘要:
对XASM-800型多功能表面分析系统扩散泵冷却进行了改进,克服了使用中突然停电引起仪器系统的污染,并介绍了受污染仪器的清洗和离子枪枪心的改进与修复等。
10.
创能BW4040EX电路维修测试仪对数字电路的故障诊断与分析
作者:
李成行 陈冠群
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
171-175
摘要:
通过用创能BW4040EX电路维修测试仪对电子显微镜、能谱仪、计算机等的数字电路进行芯片级别的故障诊断与分析,讨论了在缺乏线路图纸和资料、印刷电路板空间狭窄等困难的情况下,使用该仪器所应采取...
11.
X—650扫描电子显微分析仪高压准备灯不亮故障的排除
作者:
王慧 董向红
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
176-178
摘要:
逐一讨论了引起X-650扫描电子显微分析仪高压准备灯不亮的多种原因,阐明了正确判断出故障根源的过程、依据和经验,总结出在查找类拟故障时可供参考的信号走向图。
12.
EM400电子显微镜成像透镜程序电路原理
作者:
刘学文
刊名:
分析测试仪器通讯
发表期刊:
1995年3期
页码: 
179-181
摘要:
文章深入浅出地介绍了EM400电子显微镜成像透镜程序电路原理,扼要地阐述了M控制程序地址编码器、放大倍数、相机长度/合铀、24×14矩阵等主要电路作用以及它们之间相互关系。
分析测试仪器通讯基本信息
刊名
分析测试仪器通讯
主编
曾用名
主办单位
中国分析测试协会
主管单位
出版周期
季刊
语种
chi
ISSN
1006-2750
CN
邮编
100037
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电话
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北京阜外百万庄路26号
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