精车工艺参数对磁盘基片变形与光洁度的影响

• 作者: 伊春芝 关学丰
• 来源期刊: 广西冶金
• 学科: 工学
• 关键词: 磁盘 精车 基镀形 光洁度 工艺参数 车削
• 年，卷（期）: 1994,（1）
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: TQ586.2

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	关学丰		4	0	0.0	0.0
2	伊春芝		6	5	1.0	2.0