用衰减全反射法对液晶光学性质的研究

• 作者: 郭建新 黄锡珉
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 物理学
• 关键词: 液晶 衰减全反射法 光学性质
• 年，卷（期）: 1994,（3）
• 页码范围: 231-238
• 页数: 8页
• 分类号: O753.2

摘要

液晶作为一种最有前途的平板显示材料,其光学特性及与之相关的分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的。衰减全反射法(简称ATR方法)最早应用与对金属薄膜特性的研究,后来逐渐成为研究各类介质光学性质的有力工具。最近几年,这种方法在液晶研究领域里展现了强大的活力——它能够测量液晶的光学常数、分析掖晶排列特性、揭示液晶在光场及电场作用下的行为等等。本文介绍了衰减全反射法的基本原理、实验方法及其在研究液晶的光学特性上的应用。