用衰减全反射法研究向列相液晶的排列性质

• 作者: 史若桦 郭建新
• 来源期刊: 液晶通讯
• 学科: 物理学
• 关键词: 液晶 向列液晶 排列性质 衰减全反射法
• 年，卷（期）: 1995,（1）
• 页码范围: 6-11
• 页数: 6页
• 分类号: O753.2

摘要

液晶作为一种最有前途的平板显示材料，其分子在液晶盒内的排列特性对显示器件的设计及制作无疑是极为重要的，衰减全反射法（简称ATR方法）最早应用于对金属薄膜特性的研究，后来逐渐成为研究各类介质光学性质的有力工具。最近几年，这种方法在研究液晶在液晶盒内的排列性质方面展现了强大的活力。本文介绍了衰减全反射法的基本原理、实验方法并将它应用于探测向列相液晶CP－9001LA的排列性质。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭建新	中国科学院长春物理研究所	5	4	2.0	2.0
2	史若桦	中国科学院长春物理研究所	3	0	0.0	0.0