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高密度等离子体VUV光子引起的SiO2表面的辐射损伤
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文献信息
| 篇名 | 高密度等离子体VUV光子引起的SiO2表面的辐射损伤 | ||
| 来源期刊 | 等离子体应用技术快报 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 二氧化硅 集成电路 等离子体蚀刻 辐射损伤 | ||
| 年，卷（期） | 1995,（4） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 18-19 | |
| 页数 | 2页 | 分类号 | TN405.982 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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二氧化硅
集成电路
等离子体蚀刻
辐射损伤
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期刊影响力
等离子体应用技术快报
主办单位：
核工业西南物理研究院
出版周期：
月刊
ISSN：
CN：
开本：
出版地：
四川省成都市432信箱
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创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
864
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