微机接口芯片损坏机理分析

• 作者: 李立基
• 来源期刊: 中国经济和信息化
• 学科: 工学
• 关键词: 损坏机理 微机接口 试电笔 相线 接线插座 机壳 接口芯片 集成电路晶体管 微机系统 接地线
• 年，卷（期）: 1996,（20）
• 页码范围: 39-39
• 页数: 1页
• 分类号: TP307

摘要

带电拔插插件损坏接口芯片的机理是保护地线没有接好,而引起微机系统机壳带感应电。一般该电压可以达到60～100V,用试电笔测试时,试电笔中氖灯微红。由于机壳带上这样高的电压,使用者却不知道带电。此时拔插打印机或异步通信口的电缆,由于插拔时没有对准针与插座孔,针头碰到插座外壳,针头相应输入、输出接口驱动电路晶体管的ec极或二级管的pn节被击穿。因为集成电路晶体管的极间耐压约20V左右,而静电电压在60～100V,高出三倍以上的直流电压使极间瞬间击穿而损坏。如果微机系统电源插头的地线接地良好,该静电感应电压通过地线流到地里,使机壳不带电。在这种情况下拨插电缆一般不会烧坏接口电路,所以一

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