一种新的阻抗计型晶体测试仪

• 作者: 李东 龙凤广
• 来源期刊: 压电晶体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 阻抗计型 晶体测试仪 晶体频率 测试 石英晶体
• 年，卷（期）: 1997,（2）
• 页码范围: 27-30
• 页数: 4页
• 分类号: TM229.106

摘要

本文介绍了一种国内新型的阻抗计型晶体电参数测试仪，该仪器可在１￣６０ＭＨｚ频率范围内测量晶体的１０项电参数，其抗水平和性能指标达到国外同类产品的先进水平。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李东		52	179	8.0	10.0
2	龙凤广		1	0	0.0	0.0