多次重触发技术的研究

• 作者: 原彦飞 李新娥
• 来源期刊: 华北工学院测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器 重触发 测量系统
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 页码范围: 136-140
• 页数: 5页
• 分类号: TN1
• 字数: 1909字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.1999.03.003

摘要

多次重触发技术在存储测试系统中的应用,是针对引信运输安全模拟实验的多次磕碰冲击测试以及齿轮轮齿多次啮合过程弯曲应力而提出的.对每次重触发记录的起始地址进行锁存,以便读数时直接找到该次记录的真实起点,无须利用程序调整.该研究对重触发技术在存储测试系统中的应用具有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	原彦飞	华北工学院电子工程系	13	87	3.0	9.0
2	李新娥	华北工学院电子工程系	9	84	3.0	9.0