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摘要:
采用反射式扫描近场光学显微技术分别对直径为5μm和10μm的图钉式InGaP光学微盘进行了形貌和光致发光的近场图样测量和研究,并与由常规光学荧光显微镜测得的荧光图象相比较.结果表明InGaP微盘的近场发光图样不仅反映出荧光图象的回音壁模式特征,即沿微盘周界显示为一圈红色亮环,而且证实荧光图像中的红色亮环实际上与更精细的由分立的周期性亮点组成的近场光场分布相对应.结合微盘内部与外部的近场分布可以获得光学微盘中发光模式的重要信息.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 扫描近场光学显微术对InGaP微盘发光模式的研究
来源期刊 红外与毫米波学报 学科 物理学
关键词 扫描近场光学显微技术 微盘型光学微腔 回音壁模式 InGaP光学微盘
年,卷(期) 1999,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 219-224
页数 分类号 O4
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1001-9014.1999.03.008
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研究主题发展历程
节点文献
扫描近场光学显微技术
微盘型光学微腔
回音壁模式
InGaP光学微盘
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
红外与毫米波学报
双月刊
1001-9014
31-1577/TN
大16开
上海市玉田路500号
4-335
1982
chi
出版文献量(篇)
2620
总下载数(次)
3
总被引数(次)
28003
论文1v1指导