5X密度磁光盘模压特性检测的定时逻辑控制

• 作者: 严国萍 孙中葛 蒋仲雄 龙占超
• 来源期刊: 华中理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁光盘 预格式信息检测 光学特性 数据采集 定时与逻辑控制
• 年，卷（期）: 1999,（8）
• 页码范围: 72-74
• 页数: 3页
• 分类号: TP333.4
• 字数: 1710字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.1999.08.026

摘要

讨论5X密度磁光盘模压特性检测系统中的关键技术之一--定时与逻辑控制.该定时与逻辑控制电路通过模压预格式信号中的自同步位时钟与SM标志指示信号对模压预格式信号中的各个区段 (SM,VFO,AM,ID,PA) 在时域上定位,实现对具有高速非重复性的模压预格式信息的实时采集,从而满足检测系统对包括磁光盘扇区标头信号、跨道信号和推挽信号的模压预格式信息的测试要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋仲雄	华中理工大学电子与信息工程系	2	7	1.0	2.0
2	严国萍	华中理工大学电子与信息工程系	8	54	2.0	7.0
3	龙占超	华中理工大学电子与信息工程系	3	1	1.0	1.0
4	孙中葛	华中理工大学电子与信息工程系	5	2	1.0	1.0