5X密度磁光盘光学特性测试系统设计

• 作者: 梁柏云 皮开阳 陈海清
• 来源期刊: 华中理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 磁光盘 光学特性 测试系统 数据采集
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 页码范围: 87-89
• 页数: 3页
• 分类号: TP333.4
• 字数: 2080字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2000.04.029

摘要

阐述了5X密度磁光盘光学特性测试系统的结构原理与系统设计,并对其硬件电路系统和软件结构的设计作了详细的论述.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	皮开阳	华中理工大学光电子工程系	2	2	1.0	1.0
2	陈海清	华中理工大学光电子工程系	7	25	2.0	4.0
3	梁柏云		1	0	0.0	0.0