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用于调试基于MCU设计的新技术
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摘要：
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基于NIOSⅡ的CPU调试系统设计技术研究
NIOS
CPU设计
调试
TestBench
Avalon
基于CISC/RISC混合架构的嵌入式MCU设计
微控制器
CISC
RISC
嵌入式MCU
一种基于USB2.0的BDM高速编程调试器的设计
嵌入式微控制器
编程调试器
后台调试模式
HCS08/RS08/HCS12
片上调试
基于I2C总线的多MCU系统设计
I2C总线
多MCU系统
P89LPC932
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期刊影响力
测控技术
主办单位：
中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1000-8829
CN：
11-1764/TB
开本：
大16开
出版地：
北京2351信箱《测控技术》杂志社
邮发代号：
82-533
创刊时间：
1980
语种：
chi
出版文献量（篇）
8430
总下载数（次）
24
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