高稳定性Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜DC-SQUID

• 作者: 何明 徐凤枝 方兰 杨乾声 王晶 赵士平 路荣涛 阎少林 陈赓华 韩冰
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 1999,（4）
• 页码范围: 296-299
• 页数: 4页
• 分类号: O4
• 字数: 1733字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.1999.04.013

摘要

与YBCO薄膜相比,Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜具有更高的Tc和更好的抗湿性能,所以Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜器件不仅在液氮温度下具有更好的稳定性,而且在室温下具有更长的存放寿命.我们用磁控溅射的方法分别在24°和36.8°的STO双晶衬底上外延出Tl2Ba2CaCu2Ox薄膜并制备成晶界结DC-SQUID,比较了二者由于晶界夹角不同而产生的性能差异,并给出可工作在95K的DC-SQUID干涉曲线;对工作在77K的Tl2Ba2CaCu2Ox和YBCO薄膜双晶DC-SQUID,比较了二者在噪声特性及临界电流和结电阻随温度变化等特性,并对结果作了讨论.