红外光谱法测定粉尘中游离二氧化硅综述

• 作者: 姚红 郑连娣
• 来源期刊: 中国安全科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外光谱 粉尘 游离SiO2 定量技术 影响因素
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 所属期刊栏目: 安全检测与监控技术
• 页码范围: 10-18
• 页数: 9页
• 分类号: X9
• 字数: 7218字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-3033.1999.03.003

摘要

全面地回顾了国内外红外光谱法测定粉尘中游离二氧化硅的研究成果.系统而重点地介绍了溴化钾压片法、粉尘滤膜样品重沉积和采样滤膜直接测定技术,分析了样品粒度、标准石英物质和矿物干扰物对测定结果的影响及干扰消除方法;还介绍了国外对红外光谱法与X-射线衍射法进行比较性研究的结果和动态,并得出结论.文章所列参考文献对本领域研究人员和基层检测人员具有很高的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑连娣		1	7	1.0	1.0
2	姚红		1	7	1.0	1.0