电导数测试用于大功率半导体激光器的快速筛选

• 作者: 刘宗顺 李正庭 李红岩 石家纬 肖建伟 金恩顺 高鼎三 齐丽云
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体激光器 可靠性 筛选
• 年，卷（期）: 1999,（6）
• 所属期刊栏目: 实验技术与元件
• 页码范围: 507-510
• 分类号: TN2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.1999.06.007

摘要

对氧化物条型GaAs/GaAlAs大功率量子阱激光器的电导数曲线及其参数与器件可靠性之间的相关性进行了讨论,指出m,h,b参数可以评价器件质量和可靠性.实验结果表明电导数测试是大功率半导体激光器快速筛选的新方法.