Rice-Lognormal衰落信道中不同译码度量特性的比较

• 作者: 殷贯西 王新梅
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: Rice-Lognormal衰落信道 最大似然译码 欧氏距离译码 最小交织深度
• 年，卷（期）: 1999,（10）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 79-82
• 分类号: TN91
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.1999.10.021

摘要

本文推导出了Rice-Lognormal衰落信道中没有信道状态信息和具有信道状态信息两种情况下的最大似然译码度量,并同传统欧氏距离度量的成对错误概率进行了比较.数值计算结果表明:对于TC-MPSK方案,信道衰落特征(fDT)对度量特性的影响几乎可以忽略.最后,讨论了Rice-Lognormal衰落信道中的最小交织深度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王新梅	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	236	1980	23.0	35.0
2	殷贯西	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	4	4	1.0	2.0