Rice衰落信道的统计特性分析与仿真

• 作者: 万燕 周文胜 朱洪波
• 来源期刊: 南京邮电学院学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 衰落信道 功率谱密度 电平交叉率 平均衰落时延
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 27-31
• 页数: 5页
• 分类号: TN911
• 字数: 3112字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5439.2000.02.006

摘要

建立了Rice衰落信道的仿真模型,讨论了Rice衰落信道的统计特性,推导了电平交叉率(LCR)和平均衰落延时(ADF)的理论表达式,然后利用仿真模型对各种统计特性进行仿真和分析,并与理论分析结果进行比较.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱洪波	南京邮电学院电子工程系	160	1869	17.0	39.0
2	周文胜	南京邮电学院电子工程系	2	45	2.0	2.0
3	万燕	南京邮电学院电子工程系	1	26	1.0	1.0