相关衰落信道上LDPC码的性能分析

• 作者: 方锋华 李光球
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 衰落信道 最大比合并 高斯近似 低密度奇偶校验码
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 页码范围: 37-40
• 分类号: TN911.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2011.05.010

摘要

该文使用高斯近似算法,推导相关Nakagami-m衰落信道上采用最大比合并分集接收的低密度奇偶校验码的误比特率闭合表达式.基于离散密度进化算法,计算低密度奇偶校验码无误译码时的信噪比门限值.仿真结果表明高斯近似能够较好的估计相关Nakagami-m衰落信道上低密度奇偶校验码的性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李光球	杭州电子科技大学通信工程学院	77	169	7.0	10.0
2	方锋华	杭州电子科技大学通信工程学院	1	2	1.0	1.0