衰落信道上联合单个发收天线选择的性能分析

• 作者: 展竟 李光球
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 天线选择 差分编码四相相移键控 差分相移键控 误符号率 衰落信道
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2013.04-003

摘要

该文利用高斯Q函数的高次幂在衰落信道上的统计平均和矩生成函数法分别推导了多入多出Nakagami衰落信道上采用联合单个发送和接收天线选择的相干检测差分编码四相相移键控和M进制差分相移键控的平均误符号率的解析表达式。仿真和数值计算结果吻合。仿真和数值结果表明增大发送或/和接收天线数可以改善MIMO衰落信道上采用联合发收天线选择的差分编码四相相移键控和M进制差分相移键控的平均误符号率性能。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李光球	杭州电子科技大学通信工程学院	77	169	7.0	10.0
2	展竟	杭州电子科技大学通信工程学院	2	1	1.0	1.0