相关阴影Rician衰落信道上MPSK的性能

• 作者: 李光球 江林超
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 多输入多输出系统 阴影莱斯衰落 相移键控 空时分组编码 错误概率
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 14-17
• 页数: 4页
• 分类号: TN911
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2010.01.004

摘要

研究多输入多输出相关阴影Rician衰落信道上正交空时分组编码M进制相移键控的平均符号错误概率性能.当信道衰落参数为正整数时,使用矩生成函数方法推导了相关视距分量、独立散射分量条件下的阴影Rician衰落信道上M进制相移键控平均符号错误概率性能的精确闭合表达式.利用获得的精确闭合表达式可以分析信道衰落参数和天线间的相关性对M进制相移键控平均符号错误概率性能的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李光球	杭州电子科技大学通信工程学院	77	169	7.0	10.0
2	江林超	杭州电子科技大学通信工程学院	4	17	2.0	4.0