发射相关瑞利衰落信道V-BLAST错误性能分析

• 作者: 刘海涛 李冬霞 王高虎
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 垂直分层空时码 发送相关衰落 成时差错概率 多输入输出系统
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 无线通信
• 页码范围: 53-55,58
• 页数: 4页
• 分类号: TN914
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2008.07.018

摘要

研究了发射相关瑞利衰落信道对垂直分层空时码最大似然接收机比特差错性能的影响.研究发现,最大似然接收机平方欧氏距服从自由度为2×NR的中心卡方分布.在此基础上给出成时差错概率和比特差错概率联合界新的精确表示.用其近似公式定量分析发送相关性对最大似然接收机分集增益及信噪比损失的影响.分析表明,发射相关性不改变最大似然接收机所获得的分集增益,信噪比损失会随着相关系数不同而变化.仿真结果验证了理论分析的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李冬霞	中国民航大学电子信息工程学院	41	80	5.0	6.0
2	刘海涛	中国民航大学电子信息工程学院	71	177	7.0	8.0
3	王高虎	中国民航大学电子信息工程学院	3	3	1.0	1.0