投影栅相位法检测技术中抽样定理的适用性

• 作者: 由志福 许庆红 钟约先
• 来源期刊: 清华大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 解相 抽样 不移频 全场参考面
• 年，卷（期）: 1999,（8）
• 所属期刊栏目: 机械工程
• 页码范围: 13-15
• 页数: 3页
• 分类号: O348.12
• 字数: 3552字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0054.1999.08.004

摘要

分析了对于正弦信号抽样定理的适用性,给出了频谱分析时频域不发生泄漏的信号抽样条件.针对投影栅相位法三维检测技术中的抽样问题,提出了不移频处理方法和全场参考面的概念,避免了频域移频所带来的系统误差,克服了对正弦信号抽样的限制条件,并实例验证了新方法的优越性.该文的结论丰富了经典抽样定理的内容,提高了投影栅相位法三维检测技术的解相精度和稳定性,使之更符合实际应用条件.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	由志福	清华大学机械工程系	13	506	9.0	13.0
2	钟约先	清华大学机械工程系	83	1576	24.0	36.0
3	许庆红	清华大学机械工程系	20	242	7.0	15.0