Pb(Zr0.6Ti0.4)O3/YBa2Cu3O7-x双层结构的制备及其特性的研究

• 作者: 傅泽禄 冯一军 刘庆国 刘雷 吉争鸣 康琳 张志刚 杨森祖 王业宁 顾大振
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 页码范围: 428-432
• 页数: 5页
• 分类号: O4
• 字数: 2155字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2000.06.005

摘要

我们通过脉冲激光淀积的方法在Y-ZrO2衬底上原位生长了Pb(Zr0.6T i0.4)O3/YBa2Cu3O7-x双层薄膜,在此样品上利用电子探针分析了成分,X衍射谱证实了两层薄膜为单取向生长.对Pb(Zr0.6Ti0. 4)O3薄膜的铁电性质进行了测试,得到了典型的电滞回线,并对介电常数和损耗角正切值随频率变化进行了测量.INVESTIGATION ON THE GROWTH AND ELECTRICAL PROPERTIES OF Pb(Zr0.6Ti0.4)O3/YBa2Cu3O7-x BILAYER STRUCTURE