估算包括二维边缘效应的绕组损耗的简单方法

• 作者: 韦秀光
• 来源期刊: 电子变压器技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边缘效应 铜箔绕组 高频 损耗 2-D分析
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 9-18
• 页数: 10页
• 分类号: TM503.4

摘要

本文给出了一个简单的方法，用于估算包括二维（２－Ｄ）边缘效应在内的磁性绕组的ａｃ损耗。虽然已提出一维（１－Ｄ）分析法用于估算导线绕组的绕组损耗，但是，因２－Ｄ边缘效应而引起的附加ａｃ损耗非常显著，而不能用已提出的１－Ｄ方法预测。本文提出的方法是，基于引用一组１－Ｄ分析结果的校正系数来说明２－Ｄ边缘效应。本文还将用有限单元分析法（ＦＥＡ’ｓ）验证所获得的结果。