薄盒中液晶分子预倾角的测试方法

• 作者: 林景波 邵喜斌 黄锡珉
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 预倾角 晶体旋转法 光学位相补偿
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 79-84
• 页数: 6页
• 分类号: TN873.93
• 字数: 1288字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2000.02.001

摘要

晶体旋转法是测试液晶分子预倾角的常用方法,但由于需要制备较厚的样品,使用上有很多不便.本文通过叠加一适当位相差,改进了晶体旋转测试液晶分子预倾角的方法,使用于测试较厚液晶盒中预倾角的系统在测试相当于产品厚度的样品时,保持了较高的测试精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邵喜斌	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	12	137	5.0	11.0
2	林景波	延边大学师范学院	20	41	4.0	5.0
3	黄锡珉	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	39	413	11.0	19.0