VLSI使用寿命的一种估计方法

• 作者: 宋子善 陈胜功
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: VLSI 使用寿命 估计 中位寿命
• 年，卷（期）: 2000,（5）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 42-44
• 页数: 3页
• 分类号: TP3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2000.05.010

摘要

文章提出了一种VLSI使用寿命的实用估计方法,该方法充分考虑了工作环境和工作条件对集成电路寿命的影响,使估计结果更切合实际.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈胜功	北京航空航天大学自动控制系	11	36	4.0	5.0
2	宋子善	北京航空航天大学自动控制系	46	402	10.0	18.0