用XRF分析稀土元素时同位素激发源的选择

• 作者: 常永福 张圈世
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 物理学
• 关键词: X射线荧光分析(XRF) 同位素源 稀土元素
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 92-95
• 页数: 4页
• 分类号: O434.12
• 字数: 712字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2000.02.003

摘要

根据X射线荧光产生和探测的机理,用一些基本的物理参数(光电质量吸收系数、荧光产额、吸收边阶跃比、被分析的X荧光线相对于同线系的强度比等)分析计算了在用同位素激发X射线荧光分析技术(XRF)中最常见的两种激发源和238Pu源分析稀土元素含量时,在不同的测量系统和分析条件下,每个元素的相对激发探测效率以及它们的优缺点,从而确定了对不同的稀土元素,选择何种激发源、测量何种特征X线系(KX和LX),可使整个系统分析效果最佳.并用Ce、Nd、Sm、Tb、Tm、Ho、Er、Yb和Lu等9种稀土元素进行了实验研究,实验结果和理论计算相符合.