用于原子发射光谱技术的电荷耦合检测器

• 作者: Micha.,B 李生华
• 来源期刊: 国外分析仪器技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: CCD ICP-AES
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TH744.11

摘要

本文阐述了ＣＣＤ用于ＩＣＰ－ＡＥＳ的优点，它可使分析速度加快并使波长选择性灵活。