对并行测试生成理论的一点综述

• 作者: 曾芷德
• 来源期刊: 桂林电子工业学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 并行ATPG 加速比 自动测试
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 100-105
• 页数: 6页
• 分类号: TP306
• 字数: 7890字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-808X.2000.04.022

摘要

综述了并行自动测试生成(ATPG)理论的发展概况,并对发展前景提出了几点看法.文章特别强调:研究一种能把被测电路实质性划小的方法是进一步提高并行ATPG效率的关键所在.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾芷德	国防科技大学计算机学院	10	23	3.0	3.0