脉冲加热红外热成像无损检测的有限元模拟及分析

• 作者: 于德弘 梅林 王裕文 陈自强
• 来源期刊: 西安交通大学学报
• 关键词: 红外热成像 无损检测 有限元分析 仿真
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 页码范围: 66-70
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.28
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-987X.2000.01.016

摘要

为了进行定量化的红外无损检测,必须全面考察脉冲加热-冷却的全过程,更准确地得到红外无损检测过程中各参数对缺陷检测的影响.通过三维有限元分析方法模拟了脉冲加热红外无损检测过程,分析了影响脉冲加热红外无损检测灵敏度的几个参数,找出了脉冲加热红外无损检测对比度变化的规律,为进一步进行定量化红外无损评价打下了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王裕文		30	357	11.0	18.0
2	梅林		8	151	5.0	8.0
3	于德弘		59	696	15.0	24.0
4	陈自强		4	123	4.0	4.0