红外热成像无损检测缺陷的一种新方法

• 作者: 梅林 王裕文 薛锦
• 来源期刊: 红外与毫米波学报
• 学科: 工学
• 关键词: 红外热成像 无损检测 数学模型 有限元
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 页码范围: 457-459
• 页数: 3页
• 分类号: TN2
• 字数: 1926字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9014.2000.06.012

摘要

通过脉冲加热阶段的红外无损检测一维理论模型,提出了一种评估缺陷深度信息的新算法,并给出了有限元模拟检测结果,分析了缺陷大小及脉冲加热时间对检测结果的影响、分析表明,该方法具有较高的检测精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	薛锦	西安交通大学机械工程学院	99	930	19.0	24.0
2	王裕文	西安交通大学机械工程学院	30	357	11.0	18.0
3	梅林	西安交通大学机械工程学院	8	151	5.0	8.0