美国480型X射线测厚系统

• 作者: 赵光辉 赵壮丽
• 来源期刊: 轻合金加工技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线测厚 测量 厚差
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 板、带、箔材工艺与设备
• 页码范围: 9-11,15
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.22+5.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7235.2000.02.005

摘要

简述了480型X射线测厚系统的技术指标、测量原理、硬件组成及影响厚度测量的几个因素.指出了测厚系统实际工作中存在的问题.