微焦点X辐射密度解析成像方法及非线性校正

• 作者: 刘永康 康克军 李政 王春燕 高文焕
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 能谱 密度解析成像 非线性校正
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 159-163
• 页数: 5页
• 分类号: TL82|TL99
• 字数: 2740字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2000.03.004

摘要

提出了一种利用不同能量的X射线束所获得的图像来实现分离物体内部不同密度成分图像的方法,从本质上对这种算法进行了探讨,证明了这种算法的可行性;讨论了产生误差的原因,给出了对误差进行非线性校正的数学模型;并以两种成分的图像分离为例进行了实验,给出了实验结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高文焕	清华大学粒子技术与辐射成像国家专业实验室	40	476	11.0	20.0
2	康克军	清华大学粒子技术与辐射成像国家专业实验室	79	661	12.0	23.0
3	李政	清华大学粒子技术与辐射成像国家专业实验室	199	3420	34.0	49.0
4	王春燕		34	129	7.0	10.0
5	刘永康		1	4	1.0	1.0