利用李特洛(littrow)衍射法精确测定纳米样板的线间隔

• 作者: 叶孝佑 徐毅 王春艳 邵宏伟 高思田
• 来源期刊: 工业计量
• 学科: 工学
• 关键词: 衍射 纳米样板 线间隔 标准不确定度
• 年，卷（期）: 2000,（Z1）
• 所属期刊栏目: 计量检定
• 页码范围: 233-236
• 页数: 4页
• 分类号: TB9
• 字数: 1585字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1183.2000.z1.132

摘要

2000年1月,在北京中国计量科学研究院进行了由瑞士联邦计量局(OFMET)主持的纳米样板--一维光栅的国际比对.运用两种激光器,利用李特洛( littrow)衍射法对光栅栅距进行了精确测量,并对测量结果的合成标准不确定度作了详细分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶孝佑		44	254	10.0	13.0
2	高思田		93	567	11.0	19.0
3	王春艳		12	61	4.0	7.0
4	徐毅		15	320	10.0	15.0
5	邵宏伟		20	99	5.0	9.0