基于重定时的高性能控制电路间接测试生成方法

• 作者: 叶以正 黄祖兰
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测试矢量自动生成 重定时 编码密度 易于测试的结构
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 83-86
• 页数: 4页
• 分类号: TN79+1
• 字数: 4268字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.2000.02.025

摘要

对性能驱动控制逻辑进行测试生成难度较大,通常要加入可测性结构,但会影响原电路优化性能并增加生产成本.本文以重定时理论为基础,提出了对高性能时序电路进行间接测试生成的方法,这种方法在不影响原电路任何优化特性的前提下,可显著降低测试生成时间,提高测试生成质量.在ISCAS'89部分基准电路进行实验,结果证明了其有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶以正	哈尔滨工业大学微电子中心	67	544	14.0	21.0
2	黄祖兰	哈尔滨工业大学微电子中心	3	3	1.0	1.0