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摘要:
测定了不同气氛烧结的SrTiO3双功能陶瓷的正电子湮灭(PAT)寿命谱,其平均寿命随着烧结气氛中H2含量的增加而减小.这是还原烧结气氛使瓷体中形成较多的氧缺位,氧缺位捕获两个弱束缚电子形成F′-色心所致.弱束缚电子在禁带内形成局域能级,并使材料的电子浓度增大.x衍射分析结果证明了材料晶体结构的变化.
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文献信息
篇名 用PAT研究SrTiO3双功能陶瓷的缺陷结构
来源期刊 电子学报 学科 工学
关键词 SrTiO3陶瓷 正电子湮灭技术 烧结气氛
年,卷(期) 2000,(8) 所属期刊栏目 科研通信
研究方向 页码范围 127-128
页数 2页 分类号 TN304.82
字数 1919字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0372-2112.2000.08.039
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李盛涛 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室 98 927 20.0 26.0
2 李建英 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室 80 757 17.0 24.0
3 庄严 5 57 4.0 5.0
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研究主题发展历程
节点文献
SrTiO3陶瓷
正电子湮灭技术
烧结气氛
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子学报
月刊
0372-2112
11-2087/TN
大16开
北京165信箱
2-891
1962
chi
出版文献量(篇)
11181
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206555
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