Fe-17Mn-10Cr-5Si-4Ni 合金低应力水平下εM的结构组成

• 作者: 刘庆锁 林成新 谷南驹 赵连城
• 来源期刊: 材料工程
• 关键词: 薄片单元 应力水平 组成结构 应力诱发εM
• 年，卷（期）: 2000,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与应用
• 页码范围: 39-41
• 页数: 4页
• 分类号: TG139+6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4381.2000.06.011

摘要

用透射电镜、X射线衍射分析研究了Fe-17Mn-10Cr-5Si-4Ni 合金应力诱发εM的组成状态在室温随应力水平的提高而产生的变化.在应变小于3%所对应的低应力水平下,形成εM单变体薄片,其厚度小于10nm;而在对应应变超过3%的较高应力水平下形成了长尺寸的εM ,其组成结构特点是单变体薄片单元沿长度方向排列.而宽大εM内部组成结构状态的复杂性则与这种单变体薄片单元的排列组合有关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵连城		107	1153	16.0	29.0
2	谷南驹		62	478	13.0	19.0
3	刘庆锁		50	176	6.0	11.0
6	林成新		16	81	5.0	8.0