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摘要:
35MeV/u Ar离子在室温下辐照了多层堆叠的半晶质聚酯膜,采用傅立叶转换的红外光吸收技术分析和研究了由辐照引起的化学键断裂及其对离子剂量、离子在样品中的平均电子能量损失和吸收剂量的依赖性. 结果表明,辐照导致聚酯膜中发生了明显的化学键断裂,断键过程主要发生在反式构型的乙二醇残留物和苯环的对位上,苯环的基本结构在辐照中变化较小. 断键不仅强烈地依赖于离子的照射剂量,而且还跟样品中电子能量沉积密切相关,明显的断键发生在4.0MGy以上的吸收剂量.
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文献信息
篇名 红外光吸收研究35MeV/u Ar离子辐照半晶质聚酯膜引起的效应
来源期刊 高能物理与核物理 学科 物理学
关键词 高能Ar离子辐照 聚酯膜 傅立叶转换的红外光谱仪 断键 吸收剂量
年,卷(期) 2000,(4) 所属期刊栏目 同步辐射,核技术应用等
研究方向 页码范围 352-358
页数 7页 分类号 O4
字数 4283字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0254-3052.2000.04.013
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研究主题发展历程
节点文献
高能Ar离子辐照
聚酯膜
傅立叶转换的红外光谱仪
断键
吸收剂量
研究起点
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高能物理与核物理
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