周期性样品PSTM消假像数值模拟

• 作者: 刘伟 吴世法 潘石 王晓秋 简国树
• 来源期刊: 大连理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 强度统计/微扰 光子扫描隧道显微镜 消假像
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 数学、物理、力学
• 页码范围: 388-390
• 页数: 3页
• 分类号: TN16|O242.1|O766
• 字数: 1708字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-8608.2000.04.003

摘要

以微扰方法为基础,利用双光束照射周期性样品消除由形貌引起的假像.给出了0-方位和π -方位照射下s-极化和p-极化在玻璃光栅上等强度和等高度扫描模式下的近场强度图像.通过比较得到了较好的结果,并讨论了各种参数如极化和针尖与样品之间的距离对光子扫描隧道显微镜图像的影响.此研究有利于显示真实的样品形貌.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	简国树	大连理工大学物理系	25	95	6.0	8.0
2	潘石	大连理工大学物理系	45	254	9.0	13.0
3	刘伟	大连理工大学物理系	133	461	9.0	17.0
4	吴世法	大连理工大学物理系	41	336	10.0	17.0
5	王晓秋	大连理工大学物理系	5	37	4.0	5.0