边界扫描测试优化算法--极小权值-极大相异性算法

• 作者: 温熙森 胡政 钱彦岭
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 数学
• 关键词: 可测试性设计 边界扫描 测试生成
• 年，卷（期）: 2000,（9）
• 所属期刊栏目: 专题报告--测试技术及应用
• 页码范围: 9-11
• 分类号: O1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8829.2000.09.003

摘要

IEEE 1149.1边界扫描机制是一种新型的VLSI电路测试及可测试性设计方法,在边界扫描测试过程中,生成合理的测试向量集是有效应用边界扫描机制对电路系统进行测试的关键.在分析现有边界扫描测试生成算法的基础上,提出了一种极小权值-极大相异性算法.该算法可以在确定边界扫描测试向量集的紧凑性指标的前提下,生成故障诊断能力相当优化的测试向量集.仿真试验表明,该算法的性能优于现有的类似算法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡政	国防科技大学机电工程与自动化学院	28	269	9.0	14.0
2	温熙森	国防科技大学机电工程与自动化学院	96	1778	24.0	38.0
3	钱彦岭	国防科技大学机电工程与自动化学院	37	299	10.0	16.0