基于边界扫描的微处理器功能测试算法

• 作者: 孟汉城 梁松海 邱峰
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 功能测试 边界扫描 故障模型 测试算法
• 年，卷（期）: 1999,（3）
• 所属期刊栏目: 技术论坛
• 页码范围: 35-39
• 页数: 5页
• 分类号: TP301.6
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4598.1999.03.013

摘要

针对实现了边界扫描可测试性设计的微处理器的特点,提出了一种改进的微处理器功能测试算法.应用该算法我们成功地完成了32位RISC芯片LS8532A的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁松海	清华大学微电子所	7	70	5.0	7.0